Reliability Levels of the Tests
- Clemente, F.M.
- Oliveira, R.
- Silva, R.
- Akyildiz, Z.
- Ceylan, H.I.
- González, J.R.
- Fernández, F.T.G.
- Araújo, R.
- Sarmento, H.
- Lima, R.
- Silva, B.
- Matos, S.
- Chen, Y.-S.
- Afonso, J.
Büchersammlung:
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
ISSN: 2191-5318, 2191-530X
Datum der Publikation: 2022
Seiten: 33-85
Art: Buch-Kapitel