Reliability Levels of the Tests
- Clemente, F.M.
- Oliveira, R.
- Silva, R.
- Akyildiz, Z.
- Ceylan, H.I.
- González, J.R.
- Fernández, F.T.G.
- Araújo, R.
- Sarmento, H.
- Lima, R.
- Silva, B.
- Matos, S.
- Chen, Y.-S.
- Afonso, J.
Colección de libros:
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
ISSN: 2191-5318, 2191-530X
Año de publicación: 2022
Páginas: 33-85
Tipo: Capítulo de Libro